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Qué se resolvió

Dificultad para identificar defectos invisibles en procesos de manufactura
Dependencia de inspecciones manuales poco escalables
Información técnica fragmentada en múltiples formatos y documentos
Respuestas lentas o imprecisas ante consultas técnicas internas

Qué se implementó

Sistema avanzado de computer vision para detección automática de defectos en semiconductores
Modelos de visión entrenados para identificar roturas, contaminaciones y anomalías microscópicas
Pipeline de identificación y clasificación de defectos en tiempo real
Plataforma de IA para consultas técnicas basada en múltiples fuentes documentales
Sistema RAG (Retrieval-Augmented Generation) desplegado en la nube (GCP), capaz de razonar sobre: Presentaciones técnicas (PPTX), documentación especializada, archivos PDF y manuales internos
Motor de búsqueda inteligente que devuelve respuestas claras y concisas a preguntas complejas sobre semiconductores

Impacto

Mejora significativa en la detección temprana de defectos
Reducción de errores no identificados en la etapa de manufactura
Mayor consistencia y trazabilidad en los controles de calidad
Acceso rápido y confiable al conocimiento técnico sin depender de expertos puntuales
Toma de decisiones más ágil en entornos de alta precisión industrial

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